據bio.com網站2006年1月17日報道:美國猶他大學的醫學博士透過基因芯片發現,一染色體區域可能帶有“自閉癥”基因。這種基因的存在很有可能是導致自閉癥的主要原因。這項研究的主要對象為美國猶他州的一個高自閉癥罹患率家族。
研究針對家族的31位成員進行,他們的祖先來自于北歐。其中有7人患有自閉癥或是相類似的疾病。研究人員通過類似于微數組的基因芯片尋找自閉癥基因標志。這塊基因芯片上含有已知的“單核苷多態性”(SNPs),研究人員借此對受測者DNA上所具有的不同“單核苷多態性”變異情況進行了比較。
這項研究也排除了先前所認為與自閉癥有關的基因的可能性;目前,醫學家正在尋找其它與自閉癥有關的基因。此外,這項研究也同時證實了先前芬蘭醫學家的研究發現,即自閉癥與第3條染色體有關。
研究人員對第3條染色體進行分析后發現,第一個分析的區域內含有106種“單核苷多態性”,其中70種顯示此區域的基因與自閉癥密切相關,如FXR1;其與FMR1基因相似。FMR1基因變異會導致“脆性X染色體綜合癥”,進而引發心智障礙,而“脆性X染色體綜合癥”與自閉癥有所重疊,但進一步的研究發現FXR1與自閉癥并無關聯。目前,研究人員仍在持續分析第3條染色體上的其它區域。
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